Opis dogodka
Dan odprtih vrat ALL-MICRO ponuja edinstveno priložnost podjetjem, industriji, bolnišnicam in medicinskim centrom za raziskovanje napredne raziskovalne infrastrukture, najsodobnejših mikroskopskih tehnologij in inovativnih znanstvenih dejavnosti.
Udeleženci bodo imeli možnost obiskati specializirane laboratorije, sodelovati s strokovnjaki ter spoznati uporabo teh tehnologij v različnih sektorjih.
Program
Dopoldanska seja (10:00)
• 10:00 – Dobrodošlica in predstavitev mreže ALL-MICRO
• 10:15 – Ogled: Focus Ion Beam (FIB)
• 10:45 – Ogled: Laboratorij za napredne kvantne naprave
• 11:15 – Ogled: 4-probna STM mikroskopija
• 11:45 – Vprašanja in odgovori
Popoldanska seja (13:00)
• 13:00 – Dobrodošlica in predstavitev mreže ALL-MICRO
• 13:15 – Ogled: Focus Ion Beam (FIB)
• 13:45 – Ogled: Laboratorij za napredne kvantne naprave
• 14:15 – Ogled: 4-probna STM mikroskopija
• 14:45 – Vprašanja in odgovori
Pomembne informacije
• Program traja približno 2 uri in je enak za obe seji
• Vsak ogled laboratorija traja 30 minut
• Največje število udeležencev na laboratorij: 5 oseb
Prijava
Za udeležbo izpolnite prijavni obrazec (povezava spodaj) in ga pošljite na:
info@nanocenter.si
Prijavni obrazec zahteva:
• Ime in priimek
• Delovno mesto
• E-pošta in telefonska številka
• Naziv in naslov institucije/podjetja
Omejeno število mest
Število mest je omejeno, zato priporočamo zgodnjo prijavo.
________________________________________________________________________
Focus Ion Beam (FIB)
FIB je napreden znanstveni instrument, ki združuje obdelovalno orodje in elektronski mikroskop v enem. Sistem običajno vključuje dve koloni:
- Elektronska kolona: za visoko ločljivostno slikanje
- Ionska kolona: za jedkanje, nanostrukturiranje in analize materialov
Uporablja se za:
- analizo tankih plasti in prevlek
- analizo zlitin in mikrostruktur
- študije napak in kontrolo kakovosti
- raziskave homogenosti materialov
Omogoča tudi:
- pripravo TEM vzorcev
- 3D tomografijo
- ionsko inducirano depozicijo (IBID)
Laboratorij za napredne kvantne naprave (AQDL)
Nova infrastruktura za nanofabrikacijo, testiranje in meritve za akademsko in industrijsko skupnost.
Vključuje anaerobno okolje, nanolitografijo, manipulacijo monoplastnih kristalov, meritve transporta v širokem temperaturnem območju in do 2.5T magnetnega polja.
Povezan je z evropskimi vrhunskimi raziskovalnimi infrastrukturnimi sistemi.
4-probni STM UHV sistem
Napreden mikroskopski sistem za karakterizacijo in obdelavo nanostruktur in tankih plasti.
Združuje 4 sonde za STM in omogoča tudi AFM meritve.
Vključuje skenirni elektronski mikroskop za boljši nadzor.
Omogoča natančne meritve elektronskega transporta in manipulacijo nanostruktur.
| Pon | Tor | Sre | Čet | Pet | Sob | Ned |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|