Open Day ALL-MICRO Nanocenter Ljubljana per aziende, industrie, ospedali e centri medici

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Descrizione dell’evento

L’Open Day ALL-MICRO offre un’opportunità unica per aziende, industrie, ospedali e centri medici di esplorare infrastrutture di ricerca avanzate, tecnologie di microscopia all’avanguardia e attività scientifiche innovative.
I partecipanti avranno la possibilità di visitare laboratori specializzati, interagire con esperti e scoprire come queste tecnologie possano essere applicate in diversi settori.

Programma

Sessione mattutina (10:00)
• 10:00 – Benvenuto e presentazione della rete ALL-MICRO
• 10:15 – Visita: Focus Ion Beam (FIB)
• 10:45 – Visita: Laboratorio di Dispositivi Quantistici Avanzati
• 11:15 – Visita: Microscopia STM a 4 sonde
• 11:45 – Domande e risposte

Sessione pomeridiana (13:00)
• 13:00 – Benvenuto e presentazione della rete ALL-MICRO
• 13:15 – Visita: Focus Ion Beam (FIB)
• 13:45 – Visita: Laboratorio di Dispositivi Quantistici Avanzati
• 14:15 – Visita: Microscopia STM a 4 sonde
• 14:45 – Domande e risposte

Informazioni importanti

• Il programma dura circa 2 ore ed è identico per entrambe le sessioni
• Ogni visita ai laboratori dura 30 minuti
• Numero massimo di partecipanti per laboratorio: 5 persone

Registrazione

Per partecipare, compilare il modulo di iscrizione (link sotto) e inviarlo a:
info@nanocenter.si

Il modulo richiede le seguenti informazioni:
• Nome e cognome
• Posizione
• Email e numero di telefono
• Nome e indirizzo dell’istituzione/azienda

Disponibilità limitata

I posti sono limitati, pertanto si consiglia vivamente la registrazione anticipata.

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Focus Ion Beam (FIB)

Il Focus Ion Beam (FIB) è uno strumento scientifico altamente avanzato che funziona sia come strumento di lavorazione sia come microscopio elettronico in un unico sistema. Originariamente sviluppato per l’industria dei semiconduttori, un sistema FIB è tipicamente composto da due colonne separate:

• Colonna elettronica: utilizzata principalmente per l’imaging ad alta risoluzione dei campioni 
• Colonna ionica: consente incisione, nanostrutturazione e varie analisi su un’ampia gamma di materiali 

In collaborazione con l’industria, il FIB si è dimostrato indispensabile per:

• determinare la struttura di rivestimenti e film sottili 
• analizzare leghe e microstrutture 
• studi sui difetti e controllo qualità 
• ricerca sull’omogeneità dei materiali 

Lo strumento è utilizzato anche per creare forme e strutture complesse su scala nanometrica, nonché per:

• Preparazione campioni TEM 
• Tomografia 3D 
• Deposizione indotta da fascio ionico (IBID) 

Laboratorio di Dispositivi Quantistici Avanzati (AQDL)

AQDL è una nuova struttura per nanofabbricazione, test e misure dedicata alla comunità accademica e industriale. Include un ambiente anaerobico per nanolitografia e fabbricazione di dispositivi, posizionamento di cristalli monostrato, patterning e misure di trasporto su un ampio intervallo di temperature e fino a 2.5T di campo magnetico.
Le attività sono integrate con l’accesso a infrastrutture europee all’avanguardia.

Sistema STM UHV a 4 sonde

Sistema di microscopia avanzato per la caratterizzazione e lavorazione di film sottili e nanostrutture. Combina 4 sonde per microscopia STM ad alta risoluzione atomica; una sonda può anche eseguire microscopia a forza atomica.
Include un microscopio elettronico a scansione per un migliore controllo.
Permette misure precise di trasporto elettronico e manipolazione di nanostrutture.